EMU: Aquisição de Fonte Monocromática de raios X e detector 2D-CMOS para Espectroscopia de Fotoelétrons (XPS)

• Processo: 23/16984-1
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Pequeno Médio Porte
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2024
• Data de Término da vigência: 31 de agosto de 2027
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Abner de Siervo
• Beneficiário: Abner de Siervo
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Pesquisadores associados: Thiago Regis Longo Cesar da Paixão ; Varlei Rodrigues
• Assunto(s): Superfícies
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Análise químico-elementar | Espectroscopia de Fotoelétrons (XPS) | Fisica e Química de Materiais | superfícies | Fisica e Quimica de Superfícies

Resumo

O grupo de física de superfícies (GFS) do IFGW tem atuado ao longo dos anos no estudo dos mais diversos sistemas de superfícies usando técnicas consagradas, tais como, a espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS). Esta é uma técnica elemento e químico específica fundamental para o melhor entendimento da composição química e da estrutura eletrônica de materiais, tais como, nanopartículas, filmes finos, semicondutores, supercapacitores, ligas intermetálicas, óxidos, etc. Estes novos materiais englobam uma diversidade de aplicações desde novos materiais quânticos, catalisadores, sensores e baterias, passando por películas protetivas, novas ligas e materiais para implantes bio-compatíveis. Desta forma, inúmeros colaboradores e usuários independentes das mais diferentes áreas (Física, Química, Engenharia, Materiais, Odontologia, etc) também utilizam este equipamento adquirido há mais de quinze anos em um projeto Temático FAPESP. Quando o mesmo foi adquirido, planejamos a instalação de uma fonte de raios X monocromática, o que não foi possível devido as restrições orçamentárias. Apesar disto, uma série de sistemas envolvendo amostras pequenas e que necessitam maior resolução em energia e sensibilidade elementar se beneficiarão sobremaneira com um upgrade da fonte de fótons e dos detectores de elétrons. Neste projeto EMU-PMP, propomos a aquisição de uma fonte monocromática e focada de raios X e um conjunto sensor 2D-CMOS no estado da arte, que combinados irão viabilizar medidas em amostras menores, com resolução três vezes melhor e velocidade de aquisição cerca de dez vezes mais rápida. Além disto o novo sensor 2D-CMOS abrirá as portas para uma futura implementação de ARPES (angle-resolved photoemission spectroscopy) neste sistema. (AU)