Workshop sobre Espectroscopia de Fotoelétrons Excitados por Raios-X (WEFERX)

• Processo: 25/02502-0
• Modalidade de apoio: Auxílio Organização - Reunião Científica
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2025
• Data de Término da vigência: 05 de setembro de 2025
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Renato Vitalino Gonçalves
• Beneficiário: Renato Vitalino Gonçalves
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Espectroscopia de raio X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Catálise de superfície | Espectroscopia de raios X (XPS) | Física de Superfície | Formação de recursos humano | XPS em atmosfera ambiente (NAPSXP) | Espectroscopia de raios X

Resumo

O Workshop de Espectroscopia de Fotoelétrons por Raios X (XPS) reunirá especialistas nacionais e internacionais para explorar desde os fundamentos da técnica até suas aplicações avançadas. O evento é voltado para pesquisadores que utilizam ou desejam utilizar o XPS em suas pesquisas, abordando conceitos fundamenta e desafios práticos na interpretação dos espectros. A programação incluirá uma introdução dos princípios do XPS, pelo Dr. Arthur Graf (Cardiff University/HarwellXPS), que mostrará os mecanismos de excitação e detecção de fotoelétrons, além da identificação da composição elementar e dos estados químicos. Os participantes aprenderão a interpretar espectros de varredura e de alta resolução utilizando o software CasaXPS. O workshop abordará aplicações do XPS na fotocatálise, eletrocatálise e catálise heterogênea, com o Prof. Heberton Wender (UFMS) apresentando estudos de caso sobre a análise de catalisadores e seus mecanismos de reação. O Dr. David Morgan (Cardiff University/HarwellXPS) discutirá tópicos avançados do uso de funções especiais de pico assimétricos para modelar estados eletrônicos, além do impacto do Fator de Sensibilidade Relativa (RSF) na quantificação elementar. Serão exploradas técnicas para subtração de background, identificação de picos satélites e análise de multipletos. Haverá também um foco especial em XPS resolvido em ângulo (ARXPS). Além disso, o evento contará com uma sessão dedicada ao uso de luz síncrotron em XPS, ministrada pelo Dr. Tulio Costa Rizuti da Rocha (Sirius-LNLS), que demonstrará como a radiação síncrotron pode aumentar significativamente a resolução e a sensibilidade das medições. A Prof. Maria Luiza Rocco (UFRJ) apresentará um estudo sobre os efeitos de relaxamento eletrônico em filmes moleculares condensados, destacando o impacto desses fenômenos na análise espectral. Ao final de cada dia, será realizada uma sessão de pôsteres, proporcionando aos participantes a oportunidade de compartilhar seus trabalhos e interagir. (AU)