Estudo de superficies interfaces e filmes finos de oxidos e nitretos metalicos por espectroscopia de fotoeletrons excitados por raios x.

• Processo: 98/15543-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Regular
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 1999
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2001
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica
• Pesquisador responsável: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Beneficiário: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Filmes finos Óxidos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Filmes Finos | Nitratacao | Oxidos

Resumo

Este projeto envolve minha colaboração com alguns grupos de pesquisa, visando à investigação de superfícies, interfaces e filmes finos de óxidos e nitretos metálicos pela espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS), também conhecida como ESCA. XPS fornece informações sobre a composição e o estado químico dos elementos presentes na superfície (profundidade de 5 a 30 A) e são atualmente uma das mais usadas técnicas espectroscópicas de superfícies, podendo ser empregada na análise de vários tipos de materiais. Neste trabalho, serão investigados por XPS óxidos e nitretos metálicos com diferentes aplicações tecnológicas: vidro dissilicato.de lítio, cerâmicas eletrônicas, catalisadores de óxidos e ferro nitretado. (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

GONTIJO‚ LC; MACHADO‚ R.; MIOLA‚ EJ; CASTELETTI‚ LC; NASCENTE‚ PAP. Characterization of plasma-nitrided iron by XRD‚ SEM and XPS. SURFACE & COATINGS TECHNOLOGY, v. 183, n. 1, p. 10-17, 2004. (98/15543-8)