Elipsometria com reflexão interna total aplicada em sensores e biossensores

• Processo: 12/04224-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Internacional
• Data de Início da vigência: 20 de maio de 2012
• Data de Término da vigência: 16 de junho de 2012
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Osvaldo Novais de Oliveira Junior
• Beneficiário: Osvaldo Novais de Oliveira Junior
• Pesquisador visitante: Alexei V. Nabok
• Instituição do Pesquisador Visitante: Sheffield Hallam University, Inglaterra
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 07/08688-0 - Dispositivos eletrônicos e optoeletrônicos poliméricos, AP.TEM
• Assunto(s): Sensores Técnicas biossensoriais Materiais nanoestruturados Elipsometria
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: biossensores | elipsometria | filmes nanoestruturados | Sensores | Sensores e biossensores

Resumo

Com esta visita do Prof. Aleksey Nabok, da Universidade de Sheffield Hallam, Inglaterra, pretende-se iniciar uma colaboração em pesquisa em sensores e biossensores, para estender a gama de técnicas de sensoriamento que empregamos. O Prof. Nabok desenvolveu uma técnica denominada Total Internal Reflection Ellipsometry (TIRE), que tem fornecido excelentes resultados em sensoriamento, e portanto usaremos a visita para verificar a possibilidade de implementá-la no Estado de São Paulo. Com a visita o Prof. Nabok participará de um evento em Sorocaba, como palestrante convidado, e visitará o Instituto de Física de São Carlos, a Universidade Federal de São Carlos-Sorocaba e a Unifesp de Diadema. Nessas visitas, o tópico central será a do uso de TIRE e técnicas similares para biossensores produzidos com filmes nanoestruturados em projetos de pesquisadores do Estado de São Paulo. (AU)