Sensitivity enhancement in thermo-reflectance microscopy of semiconductor devices using suitable probe wavelengths.

• Processo: 05/50206-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 22 de junho de 2005
• Data de Término da vigência: 01 de julho de 2005
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Antonio Manoel Mansanares
• Beneficiário: Antonio Manoel Mansanares
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia fototérmica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Microscopia Fototermica | Termo Refletencia