Characterization of sub-superficial defects in translucent alumina using a liquid immersion technique in transmitted light microscopy.

• Processo: 01/11817-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 04 de novembro de 2001
• Data de Término da vigência: 08 de novembro de 2001
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Humberto Naoyuki Yoshimura
• Beneficiário: Humberto Naoyuki Yoshimura
• Instituição Sede: Instituto de Pesquisas Tecnológicas S/A (IPT). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Porosidade Microestruturas Microscopia
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Alumina Translucida | Microestrutura | Microscopia | Porosidade | Transmitancia