Influência de Parâmetros Tecnológicos e Geométricos sobre o Desempenho de Transist...
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Processo: | 06/06594-6 |
Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior |
Data de Início da vigência: | 24 de janeiro de 2007 |
Data de Término da vigência: | 26 de janeiro de 2007 |
Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia Elétrica - Circuitos Elétricos, Magnéticos e Eletrônicos |
Pesquisador responsável: | Salvador Pinillos Gimenez |
Beneficiário: | Salvador Pinillos Gimenez |
Instituição Sede: | Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil |
Assunto(s): | Microeletrônica |
Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Electrical Characterization | Flicker 1/F Noise | Spice Simulations | Microeletrônica |
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