18th International Microscopy Conference

• Processo: 14/12709-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 07 de setembro de 2014
• Data de Término da vigência: 12 de setembro de 2014
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Carlos Alberto Ospina Ramirez
• Beneficiário: Carlos Alberto Ospina Ramirez
• Instituição Sede: Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Crescimento epitaxial Difração de elétrons Microscopia eletrônica Semicondutores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Análise de interfaces | crescimento epitaxial | Difração de Elétrons | Imagens de campo claro e campo escuro | Semicondutor | Microscopia Eletrônica