Processo: | 05/00258-1 |
Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Doutorado |
Data de Início da vigência: | 01 de agosto de 2005 |
Data de Término da vigência: | 31 de maio de 2009 |
Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física |
Pesquisador responsável: | Carmen Cecília Bueno |
Beneficiário: | Fabio de Camargo |
Instituição Sede: | Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil |
Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Danos De Radiagco | Diodos De Si | Dosimetria De Altas Doses | Instrumentação para medida e controle de radiação |
Resumo Este projeto de doutorado contempla o desenvolvimento de um sistema dosimétrico com diodos especiais de Si, resistentes à radiação, para medidas instantâneas de elevadas doses de radiação gama presentes no irradiador de grande porte recentemente instalado no Centro de Tecnologia das Radiações (CTR) do Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN/CNEN-SP). Os diodos que serão utilizados neste trabalho foram fabricados para o Centro Europeu de Pesquisas Nucleares (CERN), no âmbito das atividades de P&D relativas ao desenvolvimento de detectores de Si resistentes à radiação. Em função da elevada dose a que esses dispositivos serão submetidos, um estudo prévio dos possíveis danos de radiação deverá ser feito, priorizando aqueles que resultem em mudanças de suas propriedades elétricas e estruturais.Para o desenvolvimento do dosímetro está previsto também o projeto e a construção de um amplificador de corrente acoplado diretamente ao diodo. As características operacionais do sistema de amplificação, bem como a determinação do ganho em corrente e a linearidade de resposta serão investigadas em colaboração com o grupo do Laboratório de Microeletrônica da Escola Politécnica da Universidade de São Paulo (LME/USP). A definição dos limites de dose operacionais, reprodutibilidade e estabilidade de resposta do sistema dosimétrico a ser desenvolvido também serão objeto de investigação neste plano de doutorado. | |
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