Montagem de um sistema interferométrico para caracterização de materiais fotossensíveis

• Processo: 05/05209-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2006
• Data de Término da vigência: 30 de novembro de 2007
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Áreas Clássicas de Fenomenologia e suas Aplicações
• Pesquisador responsável: Jaime Frejlich
• Beneficiário: William Roberto de Araujo
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 03/09915-0 - Materiais fotossensíveis, AP.PRNX.TEM
• Assunto(s): Materiais fotossensíveis Óptica Holografia Interferometria
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Holografia | Interferometria | Lab View | Óptica

Resumo

1- Montagem de um segundo interferômetro para estudo de materiais fotossensíveis com aquisição de dados pelo programa Labview. 2- Suporte, manutenção e aperfeiçoamento dos sistemas de medida automatizados: Montagem Littrow, Montagem de Abelés, Interferômetro principal. 3- Microscopia eletrônica e apoio técnico geral ao laboratório. (AU)