Caracterização de óxidos nanoestruturados por difração de raios X

• Processo: 09/01737-1
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Programa Capacitação - Treinamento Técnico
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2009
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2009
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Silvania Lanfredi
• Beneficiário: Iara Aparecida de Oliveira Brito
• Instituição Sede: Faculdade de Ciências e Tecnologia (FCT). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Presidente Prudente. Presidente Prudente , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 07/03510-9 - Caracterização estrutural de nanopós de óxidos semicondutores ferroelétricos, AP.R
• Assunto(s): Cerâmica (materiais cerâmicos) Difração por raios X Niobatos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Caracterização estrutural | Família Tetragonal Tungstênio Bronze | Identificação de fases | Medidas de Difração de Raios X | Nanopós | Niobatos | Cerâmica

Resumo

A bolsa TT-3 será vinculada à realização de medidas, por difração de raios X, de óxidos nanoestruturados da família tetragonal tungstênio bronze (TTB). Para a análise da identificação das fases, dos óxidos sintetizados, serão realizadas medidas de difração de raios X em intervalos de 2theta entre 5 graus e 80 graus, suficientes para a identificação dessas fases, nas condições padrões, com velocidade de 2o /min. Os parâmetros estruturais dos óxidos sintetizados serão determinados utilizando-se o método de Rietveld. Para tanto, as medidas por difração de raios X serão realizadas com tempo maior de integração, no intervalo angular de 5 graus a 120 graus com um passo de 0,02 e uma contagem de tempo fixa de 30 s. (AU)