Estudo e caracterização de filmes nanoestruturados de polifulerenos e não fulerenos: aplicação em dispositivos fotovoltaicos

• Processo: 20/05773-1
• Linha de fomento: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Vigência (Início): 01 de outubro de 2020
• Vigência (Término): 30 de setembro de 2021
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Clarissa de Almeida Olivati
• Beneficiário: Maria Eduarda Rocha Santos Medina
• Instituição-sede: Faculdade de Ciências e Tecnologia (FCT). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Presidente Prudente. Presidente Prudente , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 14/50869-6 - INCT 2014: em Eletrônica Orgânica INEO, AP.TEM
• Assunto(s): Técnica de Langmuir-Blodgett Fulereno Materiais não metálicos

Resumo

A demanda por alternativas sustentáveis de geração de energia proporcionou o incentivo ao estudo e desenvolvimento de células orgânicassolares nos últimos anos, uma vez que esta é uma forma limpa e inesgotável para gerar energia. Com a finalidade de melhorar a eficiência desses dispositivos orgânicos têm-se utilizado materiais como polifulerenos, fulerenos e não fulerenos para geração, dissociação e transporte de portadores de carga. Os fulerenos, onde podemos citar o C60 e seus derivados, como o ICBA, possuem características que permitem a aplicação de mudanças em sua cadeia lateral e que também possibilitam combinações com outros. Já os nãofulerenos, estes que foram pouco estudados e vêm atraindo pesquisadores, apresentam vantagens tanto nos espectros de absorção quanto à estética arquitetônica. Diante esse contexto, esse projeto tem como propósito afabricação de filmes finos de polifulerenos com diferentes tamanhos de cadeias e suas caracterizações, assim como estudar sua aplicabilidade como aceitadores de elétrons em dispositivos fotovoltaicos, estes que também irão ser fabricados utilizando os não fulerenos, através das técnicas de Langmuir-Blodgett e Langmuir-Schaefer. As informações sobre morfologia uniformidade dos filmes finos serão obtidas através de medidas espectroscópicas, como absorção UV-vis, FTIR e Raman, e de microscopia, como AFM. Os filmesserão caracterizados eletricamente através de medidas de corrente elétrica contínua, enfatizando os mecanismos de transporte e condutividade elétrica.