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Deposição de Barreiras Contra Difusão por Laser Pulsado de Ampla Área para Células de Óxido Sólido

Processo: 23/12927-3
Modalidade de apoio:Bolsas no Exterior - Estágio de Pesquisa - Iniciação Científica
Data de Início da vigência: 15 de dezembro de 2023
Data de Término da vigência: 14 de março de 2024
Área de conhecimento:Engenharias - Engenharia Química
Pesquisador responsável:Gustavo Doubek
Beneficiário:Guilherme Gonçalves Silva
Supervisor: Alberto Tarancon
Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Química (FEQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
Instituição Anfitriã: Institut de Recerca en Energia de Catalunya, Barcelona (IREC), Espanha  
Vinculado à bolsa:22/16377-5 - Deposição por spin-coater e PVD de Barreiras Contra Difusão Iônica de Co3O4 e 10GDC para uso em Células a Combustível de Óxido Sólido suportadas por metal (SOFCs), BP.IC
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Cgo | diffusion barrier layer | Energy Transition | Pulsed Laser Deposition | Solid Oxide Cells | Nanomateriais e Nanotecnologia

Resumo

Aproveitar adequadamente a energia disponível na natureza de forma sustentável é oferecer à humanidade uma chance de um futuro melhor. O aquecimento global e as recordes emissões de carbono exigem que os esforços para desenvolver tecnologias sustentáveis sejam intensificados.O presente trabalho tem como objetivo auxiliar no desenvolvimento nacional da capacidade de fabricação e estudo de células a combustível de óxido sólido. Esses dispositivos eletroquímicos podem converter combustíveis como hidrogênio, etanol, metanol e monóxido de carbono em eletricidade por meio de um processo sustentável e eficiente.Mais especificamente, focando no uso da Deposição Física a Laser em Área Ampliada (LA-PLD) para criar filmes finos que funcionem como barreiras contra difusão de íons nocivos (DBLs) e que previnam a degradação precoce das células. Além disso, serão utilizadas caracterizações eletroquímicas, como a potenciometria dinâmica, para medir os efeitos da DBL em uma célula em operação.A qualidade dos filmes finos também será avaliada em termos de microestrutura, utilizando Microscópio Eletrônico de Varredura e Difração de Raios-X para identificar a fase cristalina desejada.

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