Análise de relevo de superfícies por meio de registro holográfico em cristais de BI12TIO20 com lasers de iodo

• Processo: 04/07304-6
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2004
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2005
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Geral
• Pesquisador responsável: Eduardo Acedo Barbosa
• Beneficiário: Antonio Augusto de Azevedo Vasconcelos Filho
• Instituição Sede: Faculdade de Tecnologia São Paulo (FATEC São Paulo). Centro Paula Souza (CEETEPS). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Holografia Cristais fotorrefrativos Metrologia óptica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Cristais Fotorefretivos | Holografia | Metrologia Optica | Optica

Resumo

O auxílio solicitado tem por finalidade o estudo de técnicas de holografia dinâmica e em tempo real em cristais fotorrefrativos de Bi12TiO20 (BTO) para a obtenção de curvas de nível de superfícies rígidas. O registro holográfico será realizado utilizando-se, como fonte de luz, um laser de diodo emitindo em torno de 660 nm, através da técnica de mistura de duas ondas. A sintonia do laser será realizada, variando-se a sua temperatura de operação. Este estudo visa posteriormente aplicar a técnica de análise de relevo de superfícies em ensaios de metrologia, em análise de técnicas de soldagem e na varredura tridimensional de peças para usinagem a laser ou por CNC. (AU)