Microanalise eletronica de silicetos de tantalo.

• Processo: 01/05542-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de julho de 2001
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica
• Pesquisador responsável: Carlos Angelo Nunes
• Beneficiário: Giancarlo Milare Pinotti
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Química de Lorena (FAENQUIL). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). Lorena , SP, Brasil
• Assunto(s): Compostos intermetálicos Tântalo
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Eds | Intermetalicos | Metais Refratarios | Microanalise Eletronica | Silicetos | Tantalo

Resumo

No sistema Ta-Si ocorre uma interferência entre as linhas de emissão Ta-Malfa e Si-Kalfa, que impedem em princípio a determinação imediata quantitativa via EDS dos teores de Ta e Si das fases sólidas deste sistema. Assim, propõem-se a realização de estudos de regressão, envolvendo: subtração do ruído de fundo; deconvolução dos picos e por fim a correção ZAF para a quantificação dos teores de Ta e Si. Isto permitirá a determinação dos teores de Ta e Si em fases mais complexas, como por exemplo aquelas do sistema Ta-B-Si que vem sendo estudado em nosso grupo. (AU)