Estrutura ( micro e nano ) e composicao de ceramicas e filmes finos ferreletricos obtidos por precursores polimericos.

• Processo: 01/12084-7
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de janeiro de 2002
• Data de Término da vigência: 31 de dezembro de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: José Arana Varela
• Beneficiário: Francisco José dos Santos
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 00/01991-0 - Síntese e caracterização de filmes finos e cerâmicas ferroelétricos, AP.TEM

Resumo

Neste estudo pretende-se sintetizar pós-cerâmicos com estrutura perovisquita através do uso de sementes visando homogeneidade química e estrutural. Assim, as cerâmicas obtidas a partir desses pós serão avaliadas quanto à microestrutura e homogeneidade química. Na avaliação microestrutural será utilizado o MEV enquanto que a distribuição química dos elementos, bem como a existência ou não de nanoprecipitados e sua constituição química serão acompanhados por MET e EDS. Pará avaliar o crescimento epitaxial sobre as sementes, os planos cristalinos serão acompanhados utilizando o modo de alta resolução do MET (HRTEM). Filmes finos ferroelétricos serão depositados em substratos monocristalinos de Si/Pt , safira e SrTiO3, visando as suas propriedades ferrelétricas. A otimização dessas propriedades depende de vários fatores, incluindo a seu crescimento epitaxial sobre os substratos utilizados. Assim, pretende-se depositar soluções químicas dessas fases sobre substratos monocristalinos e avaliar as condições de crescimento epitaxial em função da atmosfera e do tratamento térmico utilizados. O desenvolvimento de microdeformações na interface substrato/filme pode exercer grande influência na epitaxialidade desses filmes. Assim, é nossa intenção analisar por TEM a microestrutura da seção transversal desses filmes, visando avaliar a homogeneidade química e estrutural do filme através de sua espessura e a influência sobre as propriedades elétricas e óticas. (AU)