Determinação estrutural de superfícies e interfaces via difração de fotoelétrons

• Processo: 00/07659-8
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2000
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2002
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Richard Landers
• Beneficiário: Edmar Avellar Soares
• Instituição Sede: Instituto de Física Gleb Wataghin (IFGW). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Ultra-alto vácuo Difração de elétrons
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Determinacao Estrutural | Interfaces | Superficies | Ultra Alto Vacuo | Xpd

Resumo

O objetivo deste projeto é aplicar a técnica de difração de fotoelétrons no estudo das propriedades estruturais das fases ordenadas, que surgem após a deposição de subcamadas de Sb sobre Ag(111) e Cu(111), visando uma melhor compreensão do arranjamento atômico na superfície e do processo de formação da falha no empilhamento dos planos atômicos entre a superfície e o substrato. (AU)