Estudo estrutural em materiais ferroeletricos com terras raras.

• Processo: 00/14128-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Pós-Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2001
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Elson Longo da Silva
• Beneficiário: Francisco das Chagas Dantas de Lemos
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Materiais ferroelétricos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Materiais Ferroeletricos | Metodo Rietveld | Pbtio3

Resumo

A estrutura de materiais com partículas nanocristalinas têm sido estudadas extensivamente durante as últimas décadas. Com os novos métodos desenvolvidos para a preparação de partículas nanocristalinas foram desenvolvidas as propriedades físicas que comparadas com os sólidos microcristalinos, receberam mais e mais atenção. A difração de raios X de pó é a técnica dominante para caracterizar amostras de materiais nanocristalinos, visto que desde a dimensão da partícula até a tensão interna são prontamente determinadas pelo alargamento das linhas de difração. Contudo, a difração de raios X de pó de materiais nanocristalinos e filmes finos não fornecem dados com suficiente qualidade para uma completa determinação dos parâmetros estruturais e seu refinamento. Assim, métodos adicionais são requeridos para efetuar esta tarefa. Portanto, este trabalho tem como proposta principal estudar e descrever a partir dos refinamentos de dados de raios X pelo método Rietveld, os parâmetros de rede, a posição dos átomos na célula unitária, seu fator de ocupação, seus parâmetros de deslocamento visto que somente poucas tentativas são relatadas na literatura sobre determinação de estrutura de cristais via dados de difração de pó. (AU)