Caracterização de quartzo sintético de grau óptico por topografia de raios-x

• Processo: 94/00481-6
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de maio de 1994
• Data de Término da vigência: 30 de abril de 1996
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica
• Pesquisador responsável: Carlos Kenichi Suzuki
• Beneficiário: Marcos Shoiti Tanaka
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Mecânica (FEM). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Assunto(s): Quartzo
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Defeitos Cristalinos | Inclusos Solidos | Quartzo De Grau Optico | Topografia De Raio-X