Caracterizacao de materiais por espectroscopia de fotoeletrons.

• Processo: 99/02156-9
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Iniciação Científica
• Data de Início da vigência: 01 de junho de 1999
• Data de Término da vigência: 31 de março de 2002
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Pedro Augusto de Paula Nascente
• Beneficiário: Larissa Maria Prisco Pinheiro
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Assunto(s): Nitretação Caracterização estrutural
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Analise De Superficies | Caracterizacao De Materiais | Catalizadores | Ceramicas Eletronicas | Espectroscopia De Fotoeletrons | Nitretacao

Resumo

Este projeto prevê a utilização da espectroscopia de fotoelétrons excitados por raios X (XPS) na caracterização de diversos materiais. XPS fornece informações sobre a composição e o estado químico dos elementos presentes na superfície (profundidade de 5 a 30 A). Os materiais a serem estudados serão: (1) catalizadores de óxidos de nióbio e irídio; (2) polímero poli(tetraflúor-etileno); (3) cerâmicas condutoras eletrônicas(La, Sr)MnO3; (4) ferro nitretado a plasma. (AU)