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Análise de materiais por feixes iônicos aplicada a investigação de estrutura e estabilidade de interfaces em filmes finos

Processo: 94/01046-1
Modalidade de apoio:Bolsas no Exterior - Pesquisa
Data de Início da vigência: 01 de agosto de 1994
Data de Término da vigência: 31 de julho de 1996
Área de conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
Pesquisador responsável:Manfredo Harri Tabacniks
Beneficiário:Manfredo Harri Tabacniks
Pesquisador Anfitrião: John Edward Eric Baglin
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Instituição Anfitriã: IBM Almaden Research Center, Estados Unidos  
Assunto(s):Filmes finos   Materiais
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Analise De Materiais | Filmes Finos | Pixe | Rbs

Resumo

Aplicar métodos de análise de materiais por feixes iônicos (PIXE, RBS, NRA, PIGE etc.) na caracterização e modificação de filmes finos multicamada e suas interfaces, como parte do esforço para o desenvolvimento de mídia magnética de alta densidade. (AU)

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