Interface and surface characterization by Bragg topography of coherent hybrid reflection and bragg-surface diffraction

• Processo: 00/11555-3
• Modalidade de apoio: Bolsas no Exterior - Pesquisa
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 2001
• Data de Término da vigência: 10 de fevereiro de 2001
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Luis Humberto Avanzi
• Beneficiário: Luis Humberto Avanzi
• Pesquisador Anfitrião: Jurgen Hartwig
• Instituição Sede: Pessoa Física
• Instituição Anfitriã: European Synchrotron Radiation Facility (ESRF), França
• Assunto(s): Semicondutores Topografia
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Heteroestruturas | Monocristais Organicos | Radiacoes Sincroton | Reflexoes Hibridos | Semicondutores | Topografia

Resumo

Neste experimento será feito, pela primeira vez, o estudo de reflexões hibridas coerentes em amostras de InGaP/GaAs [001] através de topografias com radiação síncrotron. Ainda, serão analisadas, caso haja tempo hábil, os materiais: SiC monocristalino e mNA (meta-Nitroanilina). As medidas serão realizadas na estação ID19 do ESRF, por ser esta a melhor existente no mundo para a realização de topografias. O objetivo deste trabalho é estudar a interface substrato/camada, através de reflexões múltiplas que ocorrem uma na rede do substrato e outra na rede da camada [App. Phys. Lett. 73, 2194 (1998)], para caracterizar propriedades tais como a propagação de defeitos a partir do substrato para a camada, distorções da rede em torno de interfaces, perfeição cristalina da superfície e visualização steps monoatômicos (degraus) (AU)