Preparação e caracterização de pós e filmes finos de óxidos mistos semicondutores Bi2MNbO7, (M=Al e In) pela técnica de decomposição de precursores metalorgânicos (MOD)

• Processo: 02/11969-8
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Mestrado
• Data de Início da vigência: 01 de março de 2003
• Data de Término da vigência: 28 de fevereiro de 2005
• Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Química - Química Inorgânica
• Pesquisador responsável: Oswaldo Luiz Alves
• Beneficiário: Zaine Teixeira Camargo
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 98/14270-8 - Centro de Ciências Ópticas e Fotônica, AP.CEPID
• Assunto(s): Filmes finos Pirocloro
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Bi2Ainbo7 | Bi2Lnbo7 | Filmes Finos | Mod | Pirocloros

Resumo

O presente projeto visa à obtenção de pós e filmes finos de óxidos mistos semicondutores do tipo Bi2MNbO7 (M = AI, In) pela técnica de Decomposição de Precursores Metalorgânicos (MOD). Tais compostos são isoestruturais ao mineral pirocloro e apresentam propriedades ópticas, elétricas e magnéticas de interesse. Os filmes serão preparados pela deposição das soluções dos precursores em substratos de vidro ou quartzo, empregando-se a técnica de dip coating. Nesta etapa, algumas características dos filmes como morfologia, espessura e cristalinidade serão investigadas, controlando-se algumas variáveis do processo como: velocidade de puxamento do substrato, temperatura de pirólise e tratamento térmico adicional (annealing). Os filmes e os pós serão caracterizados por diferentes técnicas, dentre elas: difratometria de raios X (DRX) , espectroscopias Raman e infravermelho, microscopia eletrônica de varredura (MEV), espectrometria de raios X por dispersão de energia (EDS). A espessura será determinada por perfilometria. As propriedades ópticas e elétricas serão avaliadas por espectroscopia UV- Vis-N/R e por medidas de resistência pelo método de quatro pontas, respectivamente. Eventualmente, será realizada a determinação da composição por espectrometria de retroespalhamento Rutherford (RBS) e a investigação das propriedades magnéticas através de magnetômetro com gradiente de campo alternado (AGM). (AU)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

CAMARGO, Zaine Teixeira. Preparação e caracterização de pos e filmes finos de oxidos mistos Bi2MNbO7 (M = In, Al, Mn e Mn0,5Fe0,5) pela tecnica de decomposição de precursores metalorganicos (MOD). 2005. Dissertação de Mestrado - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Instituto de Química.