CV Lattes
Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Bauru. Faculdade de Ciências (FC) (Instituição Sede da última proposta de pesquisa) País de origem: Brasil
Experiência como professor universitário a nível de bolsista didático. Experiência em caracterização óptica de filmes semicondutores; em cálculo de constantes ópticas de filmes semicondutores. Breve experiência em deposição por magnetron sputtering reativo de filmes de GaN e TiO2. Experiência em caracterização estrutural de filmes por difração de Raios-X. (Fonte: Currículo Lattes)
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Alguns métodos existentes para determinação de parâmetros ópticos de filmes semicondutores propiciam a obtenção de valores do índice de refração, coeficiente de absorção, e espessura de filmes finos, entretanto esses métodos muitas vezes utilizam procedimentos com pouco rigor ou são bastante limitados por aproximações.Neste trabalho propõe-se o desenvolvimento de um método para cálculo de…
Alguns métodos existentes propiciam a obtenção de valores do índice de refração, coeficiente de absorção, e espessura de filmes finos, entretanto esses métodos muitas vezes utilizam procedimentos com pouco rigor ou são bastante limitados por aproximações. Neste trabalho propõe-se o desenvolvimento de um método para cálculo de constantes ópticas filmes finos semicondutores a partir de espe…
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