Resumo
O objetivo do projeto é determinar as propriedades ópticas dos sub-óxidos de silício amorfo hidrogenado (a-SiOx:H). Prepararemos amostras na forma de filmes finos por sputtering reativo de silício em atmosfera de Ar contendo diferentes concentrações de O2 e H2, e mediremos a transmitância ótica dos filmes. A partir daí obteremos o índice de refração e o coeficiente de absorção em função d…