Resumo
Este projeto enquadra-se dentro de uma abordagem de auto-teste incorporado (BIST) de circuitos integrados, em que existe uma síntese estrutural de teste após a fase de síntese de alto nível (arquitetural), consistindo na transformação da arquitetura em nível de transferência entre registradores (resultante de sistemas de síntese de alto nível) em outra descrição no mesmo nível com compone…