Resumo
Neste trabalho será estudada a influência da geometria da câmara de deposição PECVD, através da variação da distância entre eletrodos, nas características físicas dos filmes do óxido de silício. O objetivo é depositar filmes de óxido de silício com baixo estresse, alta taxa de deposição e boa uniformidade para serem utilizados como camada sacrifical em microfabricação de sensores. (AU)