| Processo: | 12/02702-0 |
| Modalidade de apoio: | Bolsas no Brasil - Mestrado |
| Data de Início da vigência: | 01 de maio de 2012 |
| Data de Término da vigência: | 28 de fevereiro de 2014 |
| Área de conhecimento: | Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada |
| Pesquisador responsável: | Luiz Nunes de Oliveira |
| Beneficiário: | Krissia de Zawadzki |
| Instituição Sede: | Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil |
| Vinculado ao auxílio: | 07/57630-5 - Métodos não perturbativos aplicados a sistemas eletrônicos correlacionados, AP.TEM |
| Assunto(s): | Propriedades eletrônicas Sistemas fortemente correlacionados Efeito Kondo |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Efeito Kondo | Propriedades Eletrônicas | Relaxação magnética | Sistemas fortemente correlacionados |
Resumo Estamos interessados em ligas magnéticas diluídas, constituídas por metais hospedeiros com impurezas magnéticas no limite de baixa concentração. A baixas temperaturas, a interação da impureza com os elétrons de condução origina o efeito Kondo, uma ressonância estreita centrada no nível de Fermi. Queremos estudara dependência da taxa de relaxação longitudinal de uma ponta de prova em função da temperatura $T$ e da distância $R$ entre a ponta e a impureza na geometria em que a impureza se encontra a uma distância $d$ da superfície. Esperamos fisicamente que a taxa de relaxação dependa da relação entre R e d e assim forneça informação direta sobre a estrutura espacial da nuvem de blindagem que se forma em torno da impureza. | |
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