Eletromigração em nanoestruturas

• Processo: 22/03124-1
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Projeto Inicial
• Vigência: 01 de fevereiro de 2023 - 31 de janeiro de 2028
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Maycon Motta
• Beneficiário: Maycon Motta
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Pesquisadores associados: Alejandro Vladimiro Silhanek ; Joris van de Vondel ; Pedro Schio de Noronha Muniz ; Rafael Zadorosny
• Bolsa(s) vinculada(s): 24/00658-0 - Além dos laboratórios: uma viagem pela Supercondutividade e técnicas de fabricação por Eletromigração e por Fiação por Sopro de Solução, BP.JC; 23/11915-1 - Eletromigração em nanoestruturas supercondutoras de YBCO, BP.DD
• Assunto(s): Nanofios Supercondutividade Transporte de partículas Estequiometria Litografia Deposição de filmes finos
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Eletromigração | Nanofabricação | Nanofios | Supercondutividade | Supercondutividade

Resumo

Nos primórdios da eletrônica, a eletromigração era uma enorme fonte de falhas em circuitos eletrônicos. No entanto, o controle fino da densidade de corrente necessária para induzir esse fenômeno tem mostrado que ele pode ser usado para modificar controladamente as propriedades dos materiais em escala atômica. Neste projeto, será implementada a técnica de eletromigração para controlar a fase cristalina local, a geometria de dispositivos e a estequiometria de compostos poliatômicos, principalmente pela movimentação de vacâncias de oxigênio e elementos de liga, de diferentes materiais supercondutores. Esses materiais serão preparados por diferentes rotas bottom-up, como a Solution Blow Spinning (SBS) e também por rotas top-down, partindo da deposição de filmes finos por diferentes técnicas (Evaporação Térmica Convencional e Pulsed Laser Deposition, PLD) associado com técnicas litográficas. Portanto, um controle fino do processo de migração atômica devido à correntes e suas consequências para as propriedades dessas nanoestruturas serão investigados para materiais com variadas aplicações tecnológicas. (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

MARINKOVIC, S.; ABBEY, E. A.; CHAVES, D. A. D.; COLLIENNE, S.; FOURNEAU, E.; JIANG, L.; XUE, C.; ZHOU, Y. H.; ORTIZ, W. A.; MOTTA, M.; et al. Effect of Moderate Electropulsing on Nb Multiterminal Transport Bridges. PHYSICAL REVIEW APPLIED, v. 19, n. 5, p. 10-pg., 2023-05-03. (21/08781-8, 22/03124-1)