| Processo: | 24/22584-9 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Regular |
| Data de Início da vigência: | 01 de maio de 2025 |
| Data de Término da vigência: | 30 de abril de 2028 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos |
| Pesquisador responsável: | Alexandre Mesquita |
| Beneficiário: | Alexandre Mesquita |
| Instituição Sede: | Instituto de Geociências e Ciências Exatas (IGCE). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Rio Claro. Rio Claro , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | Rio Claro |
| Pesquisadores associados: | Adriano José Galvani Otuka ; Fábio Simões de Vicente |
| Assunto(s): | Ressonância paramagnética eletrônica Fotoluminescência |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | aluminato de cálcio e estrôncio | Epr | fotoluminescencia | Mn | Pr | Ressonância paramagnética eletrônica | silicato de zinco | titanato de cálcio e estrôncio | Propriedades ópticas e espectroscópicas da matéria |
Resumo
A busca por materiais luminóforos ecologicamente sustentáveis, não dispendiosos, de síntese acessível e eficientes é uma questão importante para dispositivos optoeletrônicos. Nesse sentido, os compostos aluminatos de cálcio e estrôncio dopados com Pr e Mn, titanatos de cálcio e estrôncio, sulfeto de zinco e silicato de zinco têm recebido atenção notável por suas propriedades fundamentais, versatilidade e potencial para diversas aplicações tecnológicas. No entanto, há uma ausência na literatura de estudos mostrando como defeitos na rede, como quebra de simetria ou vacâncias, influenciam os ativadores e sensibilizadores. Este projeto visa caracterizar esses materiais pela técnica de ressonância paramagnética eletrônica (EPR) e correlacioná-los com propriedades fotoluminescentes. Esta técnica pode fornecer informações sobre estados de oxidação, simetria e defeitos associados às respetivas incorporações na matriz, o que é fundamental para uma melhor compreensão das propriedades fotoluminescentes. As propriedades estruturais das amostras também serão caracterizadas por técnicas convencionais como microscopia eletrônica de varredura, difração de raios X, espectroscopia Raman e FTIR e espectroscopia de fotoluminescência. (AU)
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