Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais

• Processo: 96/05249-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Jovens Pesquisadores
• Data de Início da vigência: 01 de fevereiro de 1997
• Data de Término da vigência: 30 de setembro de 2001
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Valmor Roberto Mastelaro
• Beneficiário: Valmor Roberto Mastelaro
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Auxílio(s) vinculado(s): 00/10599-7 - Nanomechanical properties of surfaces and thin films using an atomic force microscope., AR.BR; 00/05187-1 - 1) xanes investigation of v205/tio2 catalytic system. 2) xas study of cuo-tio2-ceo2 catalyst system. 3) characterization of w/;ni/al2o3 catalysts by xas and xps., AR.EXT
• Bolsa(s) vinculada(s): 98/05016-0 - Étude par awaxs de la nucléation homogène sur BaO-2SiO2 et Ba2TiOSi2O7, BE.PQ; 96/12841-2 - Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais, BP.JP
• Assunto(s): Estrutura dos materiais Materiais cerâmicos Espectroscopia de absorção atômica Difração por raios X
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Ceramica | Estruturas | Exafs | Tensoes Residuais | Vidro | Xanes
• Publicação FAPESP: https://media.fapesp.br/bv/uploads/pdfs/Investindo...pesquisadores_445_305_305.pdf

Resumo

Este projeto tem como objetivo iniciar no DEMa-UFSCar uma nova linha de pesquisa voltada à utilização de técnicas de espectroscopia e difração de raios-x na caracterização estrutural de materiais. Dois temas serão desenvolvidos: 1) utilização da técnica de EXAFS-XANES no estudo da estrutura local em materiais amorfos e cerâmicas policristalinas, e 2) utilização da técnica de difração de raios-x no estudo de tensões residuais em materiais parcialmente cristalizados. (AU)