Difração de raios-x de alta resolução

• Processo: 95/06219-4
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Infraestrutura - Equipamentos
• Data de Início da vigência: 01 de maio de 1996
• Data de Término da vigência: 31 de outubro de 1998
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Eduardo Abramof
• Beneficiário: Eduardo Abramof
• Instituição Sede: Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). São José dos Campos , SP, Brasil
• Assunto(s): Recursos para a pesquisa Projetos de infraestrutura Infraestrutura Aquisição de equipamentos Equipamentos e provisões Equipamentos multiusuários Difração por raios X

Resumo

O presente projeto tem como objetivo aquisição de um equipamento de difração de raios-X de alta resolução com caráter multiusuário para caracterização de camadas epitaxiais com multicamadas e filmes finos texturizados. O equipamento visa atender em primeira instância aos seguintes grupos de pesquisa que participam deste projeto e estão envolvidos com a produção destas amostras: grupo de crescimento de compostos semicondutores IV-VI do LAS-INPE (equipado um MBE Riber 32P); grupo de crescimento de compostos semicondutores III-V do título de Física da USP (equipado com um BEM Varian); grupo de crescimento de compostos semicondutores III-V do Instituto de Física da UNICAMP (equipado com um CBE Riber 32P); grupo de filmes finos de diamantes do LAS/INPE; grupo de células do LAS/INPE, grupos de filmes finos do IEAv/CTA. (AU)