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20th International Conference on Ion Beam Analysis

Processo: 10/20654-7
Modalidade de apoio:Auxílio Organização - Reunião Científica
Data de Início da vigência: 10 de abril de 2011
Data de Término da vigência: 15 de abril de 2011
Área do conhecimento:Ciências Exatas e da Terra - Física - Física Nuclear
Pesquisador responsável:Nemitala Added
Beneficiário:Nemitala Added
Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Pixe 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:analise com feixes iônicos | Implantacao de Ions | microfeixe | Pixe | stopping power | técnicas nucleares | Desenvolvimento de técnicas, instrumentação e aplicações usando feixes iônicos

Resumo

The topics to be discussed in the conference are:1.Fundamentals of ion-solid interactions (Fundamentals of IBA) 1.Stopping forces 2.Cross sections 3.Modification and damage of materials by ions 4.Ion luminescence and charge collection 2.Experimental developments and novel IBA techniques 3.Applications of IBA 1.Materials science 2.Environmental science 3.Art and archaeometry 4.Geophysics: earth and planetary Sciences 5.Biology and medicine 4.Micro and nano probes 5.Accelerator Mass Spectrometry 6.Computer simulations and analysis 7.Complementary use of IBA and other techniques of analysis 8.Facilities/Equipments (AU)

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