Symp on defect dependent processes in insulators and semiconductors | campos do jordao - sp

• Processo: 96/12365-6
• Modalidade de apoio: Auxílio Organização - Reunião Científica
• Data de Início da vigência: 31 de julho de 1997
• Data de Término da vigência: 04 de agosto de 1997
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Shigueo Watanabe
• Beneficiário: Shigueo Watanabe
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Semicondutores Impurezas
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Bandas De Energia | Defeitos Intrinsecos | Impurezas | Isolantes | Semicondutores | Solidos Amorfos