11.0 congresso brasileiro de microscopia dos materiais | guaruja - sp

• Processo: 08/04819-6
• Modalidade de apoio: Auxílio Organização - Reunião Científica
• Data de Início da vigência: 28 de setembro de 2008
• Data de Término da vigência: 02 de outubro de 2008
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Antonio José Ramirez Londono
• Beneficiário: Antonio José Ramirez Londono
• Instituição Sede: Associação Brasileira de Tecnologia de Luz Síncrotron (ABTLuS). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). Campinas , SP, Brasil
• Tipo de evento: Congresso
• Instituição promotora: Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise (SBMM)
• Abrangência geográfica: Nacional
• Assunto(s): Microanálise Microscopia eletrônica Metrologia Caracterização estrutural Alta resolução
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Alta Resolucao | Caracterizacao De Materiais | Metrologia | Microanalise | Microscopia Eletronica | Microscopia Eletrônica