Ian G. Brown | Lawrence Berkeley Laboratory - Estados Unidos

• Processo: 96/09373-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Internacional
• Data de Início da vigência: 27 de fevereiro de 1997
• Data de Término da vigência: 14 de março de 1997
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Beneficiário: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Pesquisador visitante: Ian G. Brown
• Instituição do Pesquisador Visitante: Lawrence Berkeley National Laboratory, Estados Unidos
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Microscopia de força atômica Deposição química em fase de vapor assistida por plasma (PECVD) Intercâmbio de pesquisadores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Atomic Force Microscopy | Ion Beam Bombardment | Plasma Deposition

Resumo

Caracterização de Superfícies Modificadas por Implantação Iônica Utilizando Microscopia de Tunelamento e Força Atômica. Modificação de superfícies através de deposições por plasma e implantação iônica tem sido feitas em materiais sólidos com as mais diversas finalidades. Embora as novas propriedades destas superfícies estejam bem qualificadas e estabelecidas macroscopicamente, poucos trabalhos têm sido desenvolvidos em escalas microscópicas ou atômicas. Estes novos materiais incluem, por exemplo, superfícies resistentes a corrosão e oxidação, materiais de alta dureza e de baixo coeficiente de atrito, para utilização em cabeças de gravação magnética etc. Assim, este trabalho visa investigar propriedades de novos materiais em escala nanométrica, especificamente superfícies modificadas através de deposições por plasma e implantação iônica. O objetivo final será um melhor entendimento da ciência fundamental envolvida nas novas propriedades macroscópicas destes materiais. As amostras serão trazidas de Lawrence Berkeley National Laboratory e caracterizadas em um equipamento adquirido através de auxílio FAPESP (proc. número 95/5651-0), um "Scanning Probe Microscope" da Digital, com acessórios para Microscopia de Tunelamento e Força Atômica. (AU)