Ian Brown | Lawrence Berkeley National Laboratory - Estados Unidos

• Processo: 06/54181-2
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Pesquisador Visitante - Internacional
• Data de Início da vigência: 01 de outubro de 2006
• Data de Término da vigência: 13 de outubro de 2006
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Beneficiário: Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori
• Pesquisador visitante: Ian Brown
• Instituição do Pesquisador Visitante: Lawrence Berkeley National Laboratory, Estados Unidos
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Anisotropia Filmes finos Resistividade elétrica Intercâmbio de pesquisadores
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Anisotropia | Coeficiente De Atrito | Filmes Finos | Resistividade Eletrica

Resumo

Resistividade Elétrica de Filmes Finos Condutores e Coeficiente de Atrito em Escala Nanométrica O projeto consiste em dois trabalhos específicos e distintos a serem desenvolvidos durante a visita do Prof. Brown no Laboratório de Filmes Finos do IFUSP. O primeiro se refere ao desenvolvimento de filmes finos condutores nanoestruturados com anisotropia de resistividade, que é uma continuidade de um dos trabalhos desenvolvidos em sua última visita ao Brasil em 2005. O segundo trabalho consiste no desenvolvimento de uma nova técnica para medida de coeficiente de atrito em escala nanométrica, utilizando um microscópio de força atômica. (AU)