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Analysis of self heating effects in graded channel silicon on insulator nmosfets.

Processo: 06/02906-3
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
Data de Início da vigência: 28 de agosto de 2006
Data de Término da vigência: 01 de setembro de 2006
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Materiais Elétricos
Pesquisador responsável:João Antonio Martino
Beneficiário:João Antonio Martino
Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Alta temperatura  Semicondutores  Transistores 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:High Temperature | Self Heating | Soi | Transistor | Dispositivos Semicondutores
Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio:
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