Nanomechanical properties of surfaces and thin films using an atomic force microscope.

• Processo: 00/10599-7
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
• Data de Início da vigência: 03 de dezembro de 2000
• Data de Término da vigência: 06 de dezembro de 2000
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Valmor Roberto Mastelaro
• Beneficiário: Valmor Roberto Mastelaro
• Instituição Sede: Instituto de Física de São Carlos (IFSC). Universidade de São Paulo (USP). São Carlos , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 96/05249-0 - Aplicação das técnicas de espectroscopia de absorção e difração de raios-X na caracterização estrutural de materiais, AP.JP
• Assunto(s): Filmes finos Superfícies Microscopia de força atômica Dureza
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Afm | Dureza | Filmes Finos | Propriedades Nano-Mecanicas | Superficie