A study on the self-heating effect in deep-submicrometer partially depleted soi mosfets at low temperatures.

• Processo: 03/08388-6
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
• Data de Início da vigência: 08 de setembro de 2003
• Data de Término da vigência: 11 de setembro de 2003
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Materiais Elétricos
• Pesquisador responsável: Marcelo Antonio Pavanello
• Beneficiário: Marcelo Antonio Pavanello
• Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Deep Submicrometer | Electrical Characterization | Low Temperature | Modeling | Self Heating | Soi Technology