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13th Latin-American Test Workshop - LATW 2012

Processo: 12/02379-4
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
Data de Início da vigência: 11 de abril de 2012
Data de Término da vigência: 13 de abril de 2012
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica
Pesquisador responsável:Wang Jiang Chau
Beneficiário:Wang Jiang Chau
Instituição Sede: Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
Assunto(s):Tolerância a falhas  Microeletrônica 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Defeitos por Radiação | Testabilidade | Teste de circuitos integrados | Tolerância a Falhas | Verificação Funcional | Microeletrônica
Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio:
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