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| Processo: | 11/01825-8 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil |
| Data de Início da vigência: | 27 de março de 2011 |
| Data de Término da vigência: | 30 de março de 2011 |
| Área do conhecimento: | Engenharias - Engenharia Elétrica |
| Pesquisador responsável: | Wang Jiang Chau |
| Beneficiário: | Wang Jiang Chau |
| Instituição Sede: | Escola Politécnica (EP). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil |
| Assunto(s): | Tolerância a falhas Microeletrônica |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Defeitos por Radiação | Testabilidade | Teste de circuitos integrados | Tolerância a Falhas | Verificação Funcional | Microeletrônica |
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