Adjustment of microwave integrated circuit (mic) with focused ion beam (fib).

• Processo: 08/05336-9
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
• Data de Início da vigência: 01 de setembro de 2008
• Data de Término da vigência: 04 de setembro de 2008
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia Elétrica - Materiais Elétricos
• Pesquisador responsável: Jose Alexandre Diniz
• Beneficiário: Jose Alexandre Diniz
• Instituição Sede: Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação (FEEC). Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Campinas , SP, Brasil
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Filmes Finos E Ultrafinos | Materiais e Componentes Semicondutores