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Influence of the n-type finfet width on the zero temperature coefficient

Processo: 07/03875-7
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
Data de Início da vigência: 03 de setembro de 2007
Data de Término da vigência: 06 de setembro de 2007
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
Pesquisador responsável:Marcello Bellodi
Beneficiário:Marcello Bellodi
Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
Assunto(s):Microeletrônica  Técnicas de caracterização elétrica   Semicondutores  Processos de fabricação 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Caracterizacao Eletrica | Dispositivos Semicondutores | Microeletronica | Processos De Fabricacao | Microeletrônica
Matéria(s) publicada(s) na Agência FAPESP sobre o auxílio:
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