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Temperature influences on the drain leakage current behavior in graded-channel soi nmosfets.

Processo: 05/55102-6
Modalidade de apoio:Auxílio à Pesquisa - Reunião - Brasil
Data de Início da vigência: 04 de setembro de 2005
Data de Término da vigência: 07 de setembro de 2005
Área do conhecimento:Engenharias - Engenharia Elétrica - Medidas Elétricas, Magnéticas e Eletrônicas, Instrumentação
Pesquisador responsável:Marcello Bellodi
Beneficiário:Marcello Bellodi
Instituição Sede: Centro Universitário FEI (UNIFEI). Campus de São Bernardo do Campo. São Bernardo do Campo , SP, Brasil
Assunto(s):Alta temperatura 
Palavra(s)-Chave do Pesquisador:Electrical Characterization | Graded Channel | High Temperature | Leakage Current | Modeling | Soi Mosfet
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