High resolution x-ray diffraction and reflectometry of caf2/si (iii) structures grown by molecular beam epitaxy.

• Processo: 97/10210-8
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 01 de dezembro de 1997
• Data de Término da vigência: 05 de dezembro de 1997
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Eduardo Abramof
• Beneficiário: Eduardo Abramof
• Instituição Sede: Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE). Ministério da Ciência, Tecnologia e Inovação (Brasil). São José dos Campos , SP, Brasil
• Assunto(s): Fluoreto de cálcio Difração por raios X Epitaxia por feixe molecular
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Difracao De Raios-X | Epitaxia De Feixe Molecular | Fluoreto De Calcio | Refletometria De Raios-X | Telureto De Chumbo | Telureto De Estanho