XXIII Congress and General Assembly of the International Union of Crystallography

• Processo: 14/08819-1
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Reunião - Exterior
• Data de Início da vigência: 05 de agosto de 2014
• Data de Término da vigência: 12 de agosto de 2014
• Área do conhecimento: Ciências Exatas e da Terra - Física - Física da Matéria Condensada
• Pesquisador responsável: Sérgio Luiz Morelhão
• Beneficiário: Sérgio Luiz Morelhão
• Instituição Sede: Instituto de Física (IF). Universidade de São Paulo (USP). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Cristalografia Radiação síncrotron
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: structure determination of protein crystals | Synchrotron Radiation | X-ray phase problem | cristalografia

Publicações científicas

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(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. X-ray dynamical diffraction in amino acid crystals: a step towards improving structural resolution of biological molecules via physical phase measurements. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, n. 3, p. 689-700, JUN 2017. (14/21284-0, 14/08819-1, 16/11812-4, 12/01367-2, 12/15858-8)

MORELHAO, SERGIO L.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.; CALLIGARIS, GUILHERME A.; NISBET, GARETH. X-ray dynamical diffraction in amino acid crystals: a step towards improving structural resolution of biological molecules via physical phase measurements. JOURNAL OF APPLIED CRYSTALLOGRAPHY, v. 50, p. 12-pg., 2017-06-01. (12/01367-2, 16/11812-4, 14/08819-1, 14/21284-0, 12/15858-8)

MORELHAO, SERGIO L.; AMIRKHANYAN, ZOHRAB G.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.. Absolute refinement of crystal structures by X-ray phase measurements. ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, v. 71, n. 3, p. 291-296, MAY 2015. (12/01367-2, 14/08819-1)

MORELHAO, SERGIO L.; AMIRKHANYAN, ZOHRAB G.; REMEDIOS, CLAUDIO M. R.. Absolute refinement of crystal structures by X-ray phase measurements. ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES, v. 71, p. 6-pg., 2015-05-01. (14/08819-1, 12/01367-2)