EMU concedido no processo 2013/07793-6: equipamento de Difração de Raios X com acessórios para pequenas áreas

• Processo: 16/04779-0
• Modalidade de apoio: Auxílio à Pesquisa - Programa Equipamentos Multiusuários
• Vigência: 01 de julho de 2016 - 30 de junho de 2018
• Área do conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: Edgar Dutra Zanotto
• Beneficiário: Edgar Dutra Zanotto
• Instituição Sede: Centro de Ciências Exatas e de Tecnologia (CCET). Universidade Federal de São Carlos (UFSCAR). São Carlos , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 13/07793-6 - CEPIV - Centro de Ensino, Pesquisa e Inovação em Vidros, AP.CEPID
• Assunto(s): Cristalização Vidro Vitrocerâmica Difração por raios X Modelos termodinâmicos Equipamentos multiusuários
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Cristalização | vidros | VitroCerâmica | vitroceramica
• Página web do EMU: http://www.certev.ufscar.br/documentos/x-ray-diffraction-with-small-area-acessory
• Tipo de equipamento: Caracterização de Materiais - Difração - Raios-X (inclui SAXS)
• Fabricante: Rigaku
• Modelo: D/Tec Ultra2 U4

Resumo

A técnica de difração de raios X disponível comumente nos laboratórios de pesquisa, a qual podemos chamar de convencional, é baseada na configuração Bragg-Brentano. Está nos possibilita analisar amostras previamente pulverizadas e obter informações sobre a estrutura cristalina e/ou relação fase amorfa/fase cristalina em amostras vitrocerâmicas. Estas informações são, de uma forma geral, uma média do que acontece na amostra, não nos possibilitando obter informações mais detalhadas, por exemplo, da evolução dos processos de cristalização em amostras vítrocerâmicas. A fim de se obter mais informações sobre os processos de cristalização em amostras vítreas, solicitou-se à FAPESP, por meio de projeto associado CEPID (CeRTEV Proc. 2013/07793-6), a aquisição de um difratômetro de raios-X com acessório para micro-área. Isto significa que este equipamento, "up-to-date" pode realizar a difração de raios X forma convencional em questão de minutos (Detector de alta velocidade, modelo D/Tex Ultra2 U4, Rigaku) para refinar a estrutura cristalina de um material, ao invés de horas, como nos difratômetros antigos. Além disso, este difratômetro é equipado com um acessório que permite a difração local em uma área de 400 microns de diâmetro, permitindo obter informações localizadas sobre a evolução da estrutura cristalina em um determinado material. Cabe salientar que a aquisição deste equipamento não constitui ônus financeiro extra para esta fundação, pois se trata da substituição de equipamentos do projeto CEPID/FAPESP.O equipamento de caráter multiusuário "Difratômetro de Raios-X com acessório para difração de raios-X em pequenas áreas" a ser adquirido com recursos da FAPESP irá compor o Parque de Equipamentos do Departamento de Engenharia de Materiais - DEMa-UFSCar, e será instalado no Laboratório de Materiais Vítreos (sede do CEPID-FAPESP). Devido a sua natureza, que auxiliará no desenvolvimento da pesquisa em materiais vítreos e vitrocerâmicos, o equipamento multiusuário também será de extrema utilidade para outros tipos de materiais (metálicos, cerâmicos e poliméricos). Isto porque, como mencionado anteriormente, a informação da estrutura local, associada a outras técnicas de caracterização, nos permitirá compreender melhor os processos de preparação, especialmente quanto aos processos termodinâmicos e cinéticos que ocorrem no material. Este tipo de informação é vital para a compreensão dos processos envolvidos no desenvolvimento de novos materiais, a qual é totalmente perdida quando se utiliza o pó da amostra pulverizada para este fim. Não existe equipamento semelhante nas universidades de São Carlos e região (Araraquara e Ribeirão Preto). Desta forma, além de atender uma necessidade de nossos laboratórios, poderá atender a uma demanda da região podendo inclusive gerar mais uma rede de colaborações científicas para o CEPID. (AU)