| Processo: | 17/21643-8 |
| Modalidade de apoio: | Auxílio Organização - Reunião Científica |
| Data de Início da vigência: | 26 de novembro de 2017 |
| Data de Término da vigência: | 29 de novembro de 2017 |
| Área do conhecimento: | Interdisciplinar |
| Pesquisador responsável: | João Cristiano Ulrich |
| Beneficiário: | João Cristiano Ulrich |
| Instituição Sede: | Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). São Paulo , SP, Brasil |
| Município da Instituição Sede: | São Paulo |
| Assunto(s): | Laboratórios Estatística Metrologia Gestão de qualidade |
| Palavra(s)-Chave do Pesquisador: | Estatística | Gestão da qualidade | laboratórios | Metrologia | Metrologia |
Resumo
O 9º Congresso Brasileiro de Metrologia (CBM) tem como objetivo geral colaborar para o desenvolvimento da metrologia por meio da apresentação de trabalhos técnicos, apresentação de palestras de cientistas convidados com contribuições significantes e atuais na área, troca de experiências e intercâmbio técnico e científico entre profissionais e instituições, do país e do exterior. (AU)
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