9o. Congresso Brasileiro de Metrologia

• Processo: 17/21643-8
• Modalidade de apoio: Auxílio Organização - Reunião Científica
• Data de Início da vigência: 26 de novembro de 2017
• Data de Término da vigência: 29 de novembro de 2017
• Área do conhecimento: Interdisciplinar
• Pesquisador responsável: João Cristiano Ulrich
• Beneficiário: João Cristiano Ulrich
• Instituição Sede: Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (IPEN). Secretaria de Desenvolvimento Econômico (São Paulo - Estado). São Paulo , SP, Brasil
• Assunto(s): Laboratórios Estatística Metrologia Gestão de qualidade
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Estatística | Gestão da qualidade | laboratórios | Metrologia | Metrologia

Resumo

O 9º Congresso Brasileiro de Metrologia (CBM) tem como objetivo geral colaborar para o desenvolvimento da metrologia por meio da apresentação de trabalhos técnicos, apresentação de palestras de cientistas convidados com contribuições significantes e atuais na área, troca de experiências e intercâmbio técnico e científico entre profissionais e instituições, do país e do exterior. (AU)