Propriedades elétricas e microestruturais de cerâmicas e filmes do sistema CaCu3Ti4012 (CCTO)

• Processo: 06/61758-4
• Modalidade de apoio: Bolsas no Brasil - Doutorado
• Data de Início da vigência: 01 de abril de 2007
• Data de Término da vigência: 30 de junho de 2010
• Área de conhecimento: Engenharias - Engenharia de Materiais e Metalúrgica - Materiais Não-metálicos
• Pesquisador responsável: José Arana Varela
• Beneficiário: Ronald Tararam
• Instituição Sede: Instituto de Química (IQ). Universidade Estadual Paulista (UNESP). Campus de Araraquara. Araraquara , SP, Brasil
• Vinculado ao auxílio: 98/14324-0 - Multidisciplinary Center for Development of Ceramic Materials, AP.CEPID
• Assunto(s): Dielétricos Cerâmica (materiais cerâmicos) Pulverização catódica
• Palavra(s)-Chave do Pesquisador: Afm | Dieletrico | Efm | Rf Sputtering | Sspm | Varistor

Resumo

A descoberta de constante dielétrica gigante para CaCu3Ti4012 (CCTO) tem despertado interesse nesse óxido tipo peroviskita. CCTO apresenta também forte característica não-linear de corrente-tensão sem adição de dopantes, podendo ser efetivamente usado como varistores. Neste projeto de pesquisa, pretende-se obter a cerâmica CCTO pelo método de mistura de óxidos e processar filmes finos por "RF-sputtering" a partir de alvos obtidos pela cerâmica sintetizada. Microscopia de Força Atômica (AFM - Atomic Force Microscopy) será empregada como ferramenta indispensável na determinação da morfologia (tamanho médio de grãos e rugosidade) de cerâmicas e filmes. Outras variantes da técnica de AFM como EFM (Electrostatic Force Microscopy) e SSPM (Scanning Su/face Potencial Microscopy) serão utilizadas no mapeamento de cargas espaciais e potenciais de superfície locais, permitindo quantificar as barreiras-efetivas nos contornos de grão, correlacionando as variáveis de processamento com as propriedades obtidas. Microscopia Eletrônica de Transmissão (MET) e técnicas de espectroscopia XPS e Difração de Raios-X (DRX) permitirão estimar o tipo de defeitos envolvidos. Caracterização elétrica envolverá medidas de corrente vs tensão aplicada e medidas da constante e perda dielétrica em função da frequência. O conjunto das técnicas fornecerá importantes informações para entender a correlação entre a estrutura, microestrutura e as propriedades macroscópicas do material. (AU)

Publicações científicas

(Referências obtidas automaticamente do Web of Science e do SciELO, por meio da informação sobre o financiamento pela FAPESP e o número do processo correspondente, incluída na publicação pelos autores)

TARARAM, R.; JOANNI, E.; SAVU, R.; BUENO, P. R.; LONGO, E.; VARELA, J. A.. Resistive-Switching Behavior in Polycrystalline CaCu3Ti4O12 Nanorods. ACS APPLIED MATERIALS & INTERFACES, v. 3, n. 2, p. 500-504, FEB 2011. (06/61758-4)

Publicações acadêmicas

(Referências obtidas automaticamente das Instituições de Ensino e Pesquisa do Estado de São Paulo)

TARARAM, Ronald. Influência dos defeitos cristalinos nas propriedades dielétricas e não-ôhmicas do 'CA' 'CU IND.3' 'TI IND.4' 'O IND.12'(CCTO). 2010. Tese de Doutorado - Universidade Estadual Paulista (Unesp). Instituto de Química. Araraquara Araraquara.